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掲載日：2025年1月30日
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走査型電子顕微鏡(SEM)
| 機器番号 | 22-1 |
|---|---|
| 機器分類 | 表面観察機器 |
| メーカー名 | 株式会社日立ハイテク |
| 型番等 | SU3500 |
| 装置概要 |
観察試料に電子線を走査し、発生した二次電子や反射電子を検出し表面観察をする装置。 真空中での観察になるため、含水・含油状態での観察はできません。 |
| 主な仕様 |
電子銃：Wフィラメント、 倍率：5～300,000倍（実用倍率は数万倍まで） 最大試料サイズ：127mm径×65mm高（専用の試料台をご用意頂く場合、最大径200mm、最大高さ80mm） 低真空度設定：6～650Pa |
| 研修レベル |
2 有料の操作研修の受講が必要です。詳しくは表下「操作研修概要」をご覧ください |
| 使用料（1時間当たり） | 310円 |
| 装置写真 |  |
| 測定事例等 |
試料サンプル：髪の毛（左）、星の砂（右） |
| 備考 |
本機器は、平成25年度公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」（オートレースの補助金）により整備しました。 依頼試験をご希望のかたは走査型電子顕微鏡による試験(川口)をご確認ください。 |
| 本装置に関するお問合せ先 | 048-265-1369（材料技術・事業化支援室 材料技術担当） |
| 操作研修概要 |
半日コースの研修受講が必要です。 分析装置（分析走査電子顕微鏡）としてのご利用をご希望の場合、本研修受講後、別途研修受講が必要です。 詳細は、下記担当までお問合せください。 問合せ先：048-265-1369(材料技術担当) |
|---|
※指導員の指導を受けて機器を利用する場合は、使用料の他に指導料が1時間あたり2,500円かかります。
※一部の機器は、事前に研修を受ける必要があります。詳しくは、研修の受講方法をご覧ください。
※機器の利用時に必要となる一部の消耗品については、使用量に応じて実費精算できます。詳しくは、消耗品精算をご覧ください。
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