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掲載日:2025年1月30日

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走査型電子顕微鏡(SEM)

機器番号 22-1
機器分類 表面観察機器
メーカー名 株式会社日立ハイテク
型番等 SU3500
装置概要

観察試料に電子線を走査し、発生した二次電子や反射電子を検出し表面観察をする装置。
※観察装置のみです。分析装置としてのご利用をご希望の場合は、「X線マイクロアナライザ(分析走査電子顕微鏡)」をご覧ください。

真空中での観察になるため、含水・含油状態での観察はできません。

主な仕様

電子銃:Wフィラメント、

倍率:5~300,000倍(実用倍率は数万倍まで)

最大試料サイズ:127mm径×65mm高(専用の試料台をご用意頂く場合、最大径200mm、最大高さ80mm)

低真空度設定:6~650Pa

研修レベル

2

有料の操作研修の受講が必要です。詳しくは表下「操作研修概要」をご覧ください

使用料(1時間当たり) 310円
装置写真 機器の写真
測定事例等

髪の毛   星の砂

試料サンプル:髪の毛(左)、星の砂(右)

備考

本機器は、平成25年度公益財団法人JKAの「公設工業試験研究所設備拡充補助事業」(オートレースの補助金)により整備しました。

依頼試験をご希望のかたは走査型電子顕微鏡による試験(川口)をご確認ください。

本装置に関するお問合せ先 048-265-1369(材料技術・事業化支援室 材料技術担当)

 

操作研修概要

半日コースの研修受講が必要です。

分析装置(分析走査電子顕微鏡)としてのご利用をご希望の場合、本研修受講後、別途研修受講が必要です。
研修費用:2,500円/1人
制限事項:受講人数は1社2名以内とします。

詳細は、下記担当までお問合せください。

問合せ先:048-265-1369(材料技術担当)

※指導員の指導を受けて機器を利用する場合は、使用料の他に指導料が1時間あたり2,500円かかります。
※一部の機器は、事前に研修を受ける必要があります。詳しくは、研修の受講方法をご覧ください。
※機器の利用時に必要となる一部の消耗品については、使用量に応じて実費精算できます。詳しくは、消耗品精算をご覧ください。

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